2025年10月15日 お知らせ 半導体検査向けLED光源シリーズ拡充のお知らせ ウェーハ外観検査に最適な高均一リング光源・同軸光源のラインナップを拡充しました。 半導体ウェーハ外観検査向けに、高均一性を追求したリング光源 HIB-RS シリーズおよび同軸光源のラインナップを拡充しました。 前の記事 エリアスキャン3Dカメラ HIB-S2030B 新製品発売 一覧に戻る 次の記事 EVバッテリー検査向け光学ソリューション提供開始