新製品
エリアスキャン3Dカメラ HIB-S2030B 新製品発売
位相シフト・格子投影方式を採用した次世代3D計測カメラを発売開始しました。
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新製品リリース、展示会出展、技術情報など日比山の最新情報をお届けします。
お知らせ
半導体検査向けLED光源シリーズ拡充のお知らせ
ウェーハ外観検査に最適な高均一リング光源・同軸光源のラインナップを拡充しました。
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ソリューション
EVバッテリー検査向け光学ソリューション提供開始
リチウムイオン電池の電極シート・セル外観検査に対応する統合ライティングソリューションを提供開始。
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企業情報
令和6年6月18日 日比山株式会社 設立のお知らせ
画像検査事業を中核とする日比山株式会社を設立いたしました。
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企業情報
東京本社移転のお知らせ
本社を東京都北区浮間1丁目1番14号 リムジンビル220に移転いたしました。
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